CEM3000系列桌面式多功能掃描電鏡無需占據(jù)大量空間來容納整個(gè)電鏡系統(tǒng)，這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上,，在用戶手邊實(shí)時(shí)呈現(xiàn)所得結(jié)果,。其抗振設(shè)計(jì)，在充滿機(jī)械振動(dòng)和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山,，拍攝出清晰,、高分辨率的圖像。

CEM3000 在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價(jià)值,，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭,、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,，實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。此外,，該系列電鏡也可通過加裝各類探頭和附件,，滿足用戶的拓展性需求，這使其在材料科學(xué),、生命科學(xué),、納米技術(shù)、能源等多個(gè)領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用,。

核心優(yōu)勢

1,、緊湊靈活，突破空間限制

（1）臺(tái)式設(shè)計(jì),，體積小巧,，輕松擺放在桌面或狹小空間（如手套箱、移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室）,，節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間,。

（2）支持快速移機(jī)，一臺(tái)設(shè)備滿足多場景需求,，助力科研效率提升,。

2,、高性能，納米級分辨率

（1）空間分辨率優(yōu)于4nm（SE）,，支持高達(dá)200,000倍放大,，精準(zhǔn)捕捉納米材料、微流控芯片等樣品的微觀形貌,。

（2）高襯度成像系統(tǒng),，快速掃描也能清晰呈現(xiàn)微弱信號，滿足材料科學(xué),、生命科學(xué)等領(lǐng)域的需求,。

3、抗振防磁,，穩(wěn)定無懼挑戰(zhàn)

（1）特殊隔振設(shè)計(jì)（CEM3000B搭載復(fù)合抗振系統(tǒng)）,，消除環(huán)境振動(dòng)與電磁干擾，保障高倍成像質(zhì)量,。

（2）適用于工業(yè)車間,、車載實(shí)驗(yàn)室等復(fù)雜環(huán)境，穩(wěn)定可靠,。

4,、高效便捷，一鍵智能操作

（1）快速抽放氣技術(shù)：低真空模式僅需40秒（CEM3000B）,，高真空模式最快1.5分鐘,，大幅縮短等待時(shí)間。

（2）自動(dòng)對焦,、消像散,、圖像增強(qiáng)功能，一鍵生成高質(zhì)量圖片,，降低操作門檻,。

5、靈活拓展,，滿足多樣需求

（1）可選配低真空系統(tǒng)（5~100Pa）,，兼容導(dǎo)電/非導(dǎo)電樣品觀測。

（2）支持二次電子,、背散射電子探頭及能譜儀,，搭配顆粒統(tǒng)計(jì)、孔隙率測量等定制功能,，滿足多領(lǐng)域分析需求,。

性能特色

1.高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調(diào)節(jié),。

2.超高分辨率優(yōu)于4nm(SE),，優(yōu)于8nm(BSE)@20kV。

3.超大景深毫米級別景深,，具有高空間分辨率,。

4.多探測器可實(shí)現(xiàn)四分窗同時(shí)掃描成像,。

5.抗振性能優(yōu)異,。

應(yīng)用領(lǐng)域

CEM3000系列桌面式多功能掃描電鏡外型緊湊，空間適用性強(qiáng),，整機(jī)采用大量的抗干擾設(shè)計(jì),，避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應(yīng)用范圍,。同時(shí),，該系列臺(tái)式電鏡具有非常豐富的自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，能夠?qū)Σ煌愋偷臉悠愤M(jìn)行觀測,，具有高空間分辨率,。

應(yīng)用范例：

應(yīng)用場景

材料科學(xué)：納米材料（如60nm銀線）、高熵合金粉末,、氧化鋅等微觀結(jié)構(gòu)分析,。

新能源：太陽能電池板缺陷檢測、涂層性能評估,。

生物醫(yī)療：微流控芯片表面形貌觀測,、藥物載體研究。

工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量,、精密器件表面粗糙度檢測,。

部分技術(shù)指標(biāo)

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